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商品详情页

涂层测厚仪

MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪

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  • 参数
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产品特点

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;

所有型号均可配所有探头;

可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;

可使用一片或二片标准箔校准。


    MiniTest涂层测厚仪功能

    型号
    1100
    2100
    3100
    4100
    MINITEST 存储的数据量
    应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
    1
    1
    10
    99
    每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,并可设宽容度极限值)
    -
    1
    10
    99
    可用各自的日期和时间标识特性的组数
    -
    1
    500
    500
    数据总量
    1
    10000
    10000
    10000
    MINITEST统计计算功能
    读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
    -
    读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
    -
    -
    组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    存储显示每一个应用行下的所有组内数据
    -
    -
    -
    分组打印以上显示和存储的数据和统计值
    -
    -
    显示并打印测量值、打印的日期和时间
    -
    其他功能
    设置极限值
    -
    -
    连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值
    -
    -
    连续测量模式中测量稳定后显示读数
    -
    -
    连续测量模式中显示最小值
    -
    -


技术参数

MiniTest涂层测厚仪可选探头参数(探头图示)

所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层

N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层

FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能


    探头
    量程
    低端
    分辨率
    误差
    最小曲率
    半径(凸/凹)
    最小测量
    区域直径
    最小基
    体厚度
    探头尺寸



           
    F05
    0-500μm
    0.1μm
    ±(1%±0.7μm)
    1/5mm
    3mm
    0.2mm
    φ15x62mm
    F1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/6mm
    5mm
    0.5mm
    φ8x8x170mm
    F3
    0-3000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F10
    0-10mm
    5μm
    ±(1%±10μm)
    5/16mm
    20mm
    1mm
    φ25x46mm
    F20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±10μm)
    10/30mm
    40mm
    2mm
    φ40x66mm
    F50
    0-50mm
    10μm
    ±(3%±50μm)
    50/200mm
    300mm
    2mm
    φ45x70mm

      
    FN1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm
    FN1.6P
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    30mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ21x89mm
    FN2
    0-2000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm



             
    N02
    0-200μm
    0.1μm
    ±(1%±0.5μm)
    1/10mm
    2mm
    50μm
    φ16x70mm
    N.08Cr
    0-80μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    2.5mm
    2mm
    100μm
    φ15x62mm
    N1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    2mm
    50μm
    φ15x62mm
    N1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/10mm
    5mm
    50μm
    φ13x13x170mm
    N10
    0-10mm
    10μm
    ±(1%±25μm)
    25/100mm
    50mm
    50μm
    φ60x50mm
    N20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±50μm)
    25/100mm
    70mm
    50μm
    φ65x75mm
    N100
    0-100mm
    100μm
    ±(1%±0.3mm)
    100mm/平面
    200mm
    50μm
    φ126x155mm
    CN02
    10-200μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    7mm
    无限制
    φ17x80mm
    注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
    N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
    CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
  1. MiniTest涂层测厚仪探头图示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头,特别适合测粉末状的覆层厚度

F05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头,尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

F50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度非磁性测头,尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

CN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

设备成套性

主机、探头、基体、试片、文件、仪器箱


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