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涂层测厚仪

Qnix8500涂层测厚仪

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  • 参数
  • 评价

        产品特点

        •只需调零,无需校准•测量精度高

        •一体分体通用

        •可配多种探头

        •中英文菜单操作

        •智能化

        •带存储,并可连计算机对数据进行处理分析

        •可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度精确测量,误差小于±3um

        产品功能

        •只需调零,无需校准•测量精度高

        •一体分体通用

        •可配多种探头

        •中英文菜单操作

        •智能化

        •带存储,并可连计算机对数据进行处理分析

        •可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度精确测量,误差小于±3um

        可选探头:

        •Fe铁基探头:    0-2000μm    0-5000μm

        •NFe非铁基探头:  0-2000μm    0-5000μm

        •NFe/Fe两用探头:0-2000μm    0-5000μm

        •无线传输探头

        •薄镀层探头

        

技术参数

    QuaNix8500主机(普通型)
    基   体Fe、NFe、FeNFe
    探头形式一体、 分体
    显   示LCD液 晶 显 示
    测量范围0-2000μm
    0-5000μm
    测量精度0-2000μm: ≤±2%
    2000-5000μm:≤±3%
    最小基体Fe:20mm×20mm NFe:20mm×20mm
    最薄基体Fe:0.2mm NFe:0.05mm
    最小曲率凸半径:5mm 凹半径:30mm
    存储功能100个读数,1个数据组
    统计功能平均值,最大值,最小值,标准偏差
    储存温度-10℃ --- 60℃
    菜单语言可预置3种语言
    单位显示μm/mil(公/英制)
    温度补偿范围0℃ --- 60℃
    电   源2节1.5V干电池
    尺   寸124mm×67mm×33mm
    重   量120g(含电池及探头)

设备成套性

主机、探头、标准样板

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