JRT 0045.3—2014 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3 部分：借记贷记应用个人化检测规范

JR/T 0045 《中国金融集成电路（IC）卡检测规范》 分为5个部分：

——第 1 部分：借记/贷记应用卡片检测规范；

——第 2 部分：借记/贷记应用终端检测规范；

——第 3 部分：借记/贷记应用个人化检测规范；

——第 4 部分：非接触卡片检测规范；

——第 5 部分：非接触终端检测规范。

本部分为JR/T 0045的第3部分。

本部分依据GB/T 1.1—2009给出的规则起草。

本部分代替JR/T 0045.3—2008《中国金融集成电路（IC）卡检测规范 第3部分：借记/贷记应用个人化检测规范》。

本部分与JR/T 0045.3—2008相比主要变化如下：

——修改了标准的前言；

——在第 4.15 条个人化数据与 ICS 的一致性中，增加了许多案例；

——修改了附录 E；

——对近几年 IC 卡实际使用中遇到的问题，设计了一些新的案例；

——对原标准在文字描述上的勘误做出修正。

本部分由中国人民银行提出。

本部分由全国金融标准化技术委员会（SAC/TC180）归口。

本部分主要起草单位：中国人民银行、中国银联股份有限公司、银行卡检测中心、中国金融电子化公司。

本部分主要起草人：王永红、李晓枫、陆书春、潘润红、杜宁、李兴锋、陈则栋、李新、汤沁莹、齐大鹏、李春欢、刘志刚、张永峰、余沁、张艳。

本部分于2008年首次发布，本次为第一次修订。