GT-C系列万分之一内校分析天平

        万分之一内校分析天平GT-C系列 

        仪器特点：1.内置ARM32位微处理芯片，运行速度快、测量准确度高；

        2.采用数字滤波和先进的数据处理技术，智能改善仪器响应速度和测量数据准确度。

        3.采用先进的电磁传感器技术，传感器配件使用高精度数控加工中心加工，保证了传感器的精度及稳定性；

        4.仪器采用密封式防风罩，外形美观，使用方便；

        5.仪器含有计数、检重、密度、动物称量等多种模式称量，满足不同客户的需求，操作简单，准确度高等优点；

        6.仪器电路板采用SMT贴片工艺，提高了产品的可靠性；

        7.4.3英寸电容触摸屏，色彩明亮，操作简单。